Новгородские ученые создали нейросетку для выявления дефектов микросхем
Программа определяет дефекты монолитных интегральных схем (МИС), что в разы повышает изделий
Софт для отбраковки микроэлектронной продукции с использованием алгоритмов нейросетей был разработан учеными НовГу.
В программу «вшиты» две модели нейронки – одна отвечает за обнаружение внешних дефектов микросхемы, другая распознает полученные данные.
В итоге оператор получает полную аналитику, которая помогает ему принять верное решение по отбраковке изделий.
Сейчас идет тестирование бета-версии продукта на мощностях заказчика – одного из предприятий региона. После доработки ПО встанет на вооружение заказчика.
Разработка имеет важное значение для отрасли региона, где активно развивается микроэлектроника. В Великом Новгороде начато строительство завода по выпуску микросхем полного цикла на базе ИНТЦ «Валдай».
Там же появится научно-образовательный центр «НОВая электроника», на базе которого будет создана инфраструктура для подготовки кадров и отработки новых технологических решений. Проект призван обеспечить отрасль сверхвысокочастотной электронной компонентной базой до 1 млн кристаллов в год.
Фото: Мос.ру
