Новгородский ученый создал ПО для выявления дефектов микросхем

Софт распознает внешние дефекты монолитных интегральных схем

Новгородский ученый из НовГУ Владислав Рысев с коллегами разработал программное обеспечение, которое помогает выявлять брак на микросхемах. Об этом сообщили в пресс-службе вуза.

Софт способен увидеть дефект, который появился во время процесса производства монолитной интегральной схемы. На них могут быть царапины, следы грязи, пыли, смазана металлизация и т. п. Такие дефекты зачастую заметны только под микроскопом.

Программное обеспечение работает следующим образом: одна его модель нейросетей обнаруживает внешние дефекты и передает собранные данные второй, которая прогоняет их по своей базе и распознает. В результате оператор получает аналитический отчет, на основании данных которого принимает решение, принять эти дефекты или признать изделие годным.

Разработка поможет автоматизировать процесс отбраковки.

Фото: НовГУ